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本发明提供了一种同轴谐振腔复介电常数高温测试系统及方法，测试系统包括：测试部分、加热冷却及温控部分，测试方法的步骤包括测试空腔的谐振频率和品质因数，放入杆状样品，盖上金属上端盖并固定，由上端盖中间设置的通孔充入保护气，开启感应加热设备与水冷...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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