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一种基于双重公差原则的同轴度的评定方法技术
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文档序号:19212867
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本发明属于精密计量与计算机应用领域,具体涉及一种稳定、快速、形式简单的基于双重公差原则的同轴度评定方法。本发明包含以下步骤:步骤1,用待测零件的测点构造多个参数矩阵,来描述待测零件的几何误差;步骤1.1,决定分析基准段还是被测段;步骤1.2...
该专利属于桂林电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过桂林电子科技大学授权不得商用。
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