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本发明公开了一种集成电路测试装置，包括固定底板，所述固定底板上端面的右侧设有智能传送机构，所述智能传送机构上方设有控制箱，所述控制箱内部的右侧设有测试控制器，所述升降套筒下端穿出升降槽的开口处且连接有检测连接装置，所述控制箱左端面的下端固定...该专利属于王欣;张敏;朱洪涛;申大辉;姚丽红;杨磊;郝立娟;程芳;王世翠;张丽;李欢;王春苗;陈东丽;怀维;孙庆红;程静;赵立山;古立冬;李欣阳;张志光;李会兰所有，仅供学习研究参考，未经过王欣;张敏;朱洪涛;申大辉;姚丽红;杨磊;郝立娟;程芳;王世翠;张丽;李欢;王春苗;陈东丽;怀维;孙庆红;程静;赵立山;古立冬;李欣阳;张志光;李会兰授权不得商用。