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低温微波表面电阻多模测试装置及方法制造方法及图纸
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文档序号:19135790
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本发明公开了一种低温微波表面电阻多模测试装置,包括圆柱形金属腔体,以及填充于金属腔体中的介质材料,金属腔体底面设有样品孔,样品孔的中心轴位于金属腔体底面的中心。一种利用上述测试装置测试微波表面电阻的多模测试方法,包括以下步骤:S1、将导体铌...
该专利属于成都特锐迈思科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过成都特锐迈思科技有限公司授权不得商用。
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