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样本晶体颗粒检测系统及方法技术方案
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文档序号:19096837
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本发明公开了一种样本晶体颗粒检测系统及方法,包括控制器,M个样本晶体颗粒发生器,恒流恒压装置,M个盛有晶体颗粒载体油的导热容器,与1个导热容器底部连接的晶体颗粒采集装置,晶体颗粒光路检测器,位于晶体颗粒光路检测器一侧并依次排列的若干个波长依...
该专利属于杭州凯基科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州凯基科技有限公司授权不得商用。
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