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本文描述了用于对准光谱仪的示例性方法。该光谱仪包括辐射源、晶体分析仪和探测器，它们都位于仪器平面上。该方法包括：使所述晶体分析仪围绕在所述仪器平面内并且垂直于旋转平面的轴线旋转，使得(i)所述晶体分析仪的倒易晶格矢量在所述仪器平面内，或(i...
该专利属于华盛顿大学所有，仅供学习研究参考，未经过华盛顿大学授权不得商用。

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