下载一种集成电路测试设备的技术资料

文档序号:18971330

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本发明公开了一种集成电路测试设备,包括设置于地面上方设置有箱块,所述箱块下端面固设有左右对称的支撑柱,所述支撑柱与地面相抵,所述箱块内固设有上下贯穿的连穿腔,远离所述连穿腔中心线的所述连穿腔端壁内连通设置有环形设置的环腔,左侧的所述环腔下端...
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