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本发明提出一种基于振镜扫描成像的认证系统，该系统使用高维量子光照射由随机介质构成的光学PUF钥匙产生散斑响应，使用振镜扫描成像的方法采集产生的散斑图样，利用散斑信息进行PUF钥匙的注册和认证。本发明利用了量子光的量子不可克隆性和随机介质PU...
该专利属于中国工程物理研究院电子工程研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院电子工程研究所授权不得商用。

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