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本发明公开了一种余辉检测装置和余辉检测方法。余辉检测装置包括：X射线管；第一读出电路，用于与被检测探测器连接，检测时被检测探测器接受X射线束辐射，并向第一读出电路输出第一探测信号，第一读出电路根据第一探测信号形成并输出第一测量信号；残余射线...
该专利属于同方威视技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过同方威视技术股份有限公司授权不得商用。

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