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一种大口径锥镜面形检测系统及检测方法，测量系统包含：波面测量干涉仪，第一安装插口、第二安装插口、工件台、平面参考镜、第一计算全息片和第二计算全息片，待测锥镜安装在工件台上，其轴线与干涉仪光轴平行，平面参考镜安装在第一安装插口，平面参考镜、第...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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