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本发明属于图像处理领域，涉及一种基于带约束稀疏表示的高光谱图像异常检测方法，包括以下步骤：(S1)将高光谱图像线性规范化；(S2)对于每一个测试像元，根据双窗模型提取局部背景字典；(S3)根据局部背景字典，求解带约束稀疏表示模型，得到模型最...
该专利属于中国人民解放军国防科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军国防科技大学授权不得商用。

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