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本实用新型公开了一种用于高速流场等离子体参数诊断的平装探针装置，该装置包括平装探针，其中，平装探针将探针电极表面与绝缘套表面相齐平。该结构很好的解决了在高速流场等离子体中，传统的静电探针由于电极裸露而在流场中易被损坏，以及传统静电探针伸出飞...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

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