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原子层化学气相沉积系统生长(MO2)x(SiO2)1-x金属氧化物薄膜的方法技术方案
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文档序号:18846472
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本发明公开了一种原子层化学气相沉积系统生长(MO2)x(SiO2)1‑x金属氧化物薄膜的方法,通过调节M源和Si源交替重复生长控制薄膜的厚度,通过调节M源和Si源各自的脉冲循环次数调控薄膜的组分,实现薄膜组分和厚度的控制,操作简单,可控可调...
该专利属于安阳师范学院所有,仅供学习研究参考,未经过安阳师范学院授权不得商用。
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