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测量高速移动的弯曲物体上沉积涂层厚度的不依赖于物体位置的方法技术
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下载测量高速移动的弯曲物体上沉积涂层厚度的不依赖于物体位置的方法的技术资料
文档序号:18823926
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本申请提供了测量移动物体上涂层厚度的方法和装置。在物体上预定位置处将光引导到物体,使得一部分光与物体相互作用。拍摄至少一个波长通道的ID和/或2D最大强度,其由与物体相互作用的那部分光产生。将测得的该波长通道的平均强度和/或多个波长通道几何...
该专利属于阿科玛股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过阿科玛股份有限公司授权不得商用。
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