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本发明公开了一种测量倍频腔倍频效率的方法，该方法改进了原有技术由于忽略腔内损耗造成的误差扩大和使用受限，使得可以在损耗存在的情况下测量倍频效率，该方法整个测量过程都避免使用光功率计，只使用同一光电探测器测量同一波长，不存在因为校准功率探头产...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

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