下载一种通用化的SiP芯片测试系统及测试方法的技术资料

文档序号:18781982

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本发明公开了一种通用化的SiP芯片测试系统,包括SiP芯片测试载板,该系统还包括高性能SiP功能测试平台和功能测试板卡模块;SiP芯片通过测试插座与SiP芯片测试载板连接;所述SiP芯片测试载板与高性能SiP功能测试平台连接;所述功能测试板...
该专利属于天津津航计算技术研究所所有,仅供学习研究参考,未经过天津津航计算技术研究所授权不得商用。

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