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本实用新型提供了一种单芯片的测试装置，包括：芯片座，适用于不同的待测芯片，用于放置单个待测芯片；电源模块，与芯片座相连，用于为所述芯片座供电；以及信号转换与测试模块，用于改变所述电源模块供电引脚的电平，使得所述电源模块的输出电压由一通用电压...
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