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本发明公开了一种基于深度‑体积联合补偿策略的荧光分子断层成像重建方法，包括以下步骤：根据预迭代得到的重建荧光参数，对重建的荧光团进行聚类分析，得到各荧光团的体积和深度；根据荧光团的体积及深度，建立补偿系数与深度权值系数、体积权值系数之间的函...
该专利属于苏州大学所有，仅供学习研究参考，未经过苏州大学授权不得商用。

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