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本发明公开了一种基于k范围温度变化斜率曲线交点的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，提取得到k范围温度变化斜率曲线，以涂层厚度最...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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