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基于极化信息的镜像综合孔径辐射计成像方法技术
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文档序号:18620901
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本发明公开了一种基于极化信息的镜像综合孔径辐射计成像方法,包括下述步骤:当天线阵列中每个接收天线的主极化方向沿x方向时,得到天线阵列输出的第一相关函数构成的第一线性方程组;当天线阵列中每个接收天线的主极化方向沿y方向时,得到天线阵列输出的第...
该专利属于华中科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过华中科技大学授权不得商用。
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