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在切割扁平产品(3)时，限定产品(3)的一组希望的形状和尺寸。首先，扫描材料(1)的至少一个表面；扫描材料(1)的可用表面的边界集。可由放射性扫描，优选借助于CT扫描仪(8)来补充光学扫描。缺陷(2)在扫描的图像中标识，且对它们分配位置。权...
该专利属于拜尔泰克集团股份公司所有，仅供学习研究参考，未经过拜尔泰克集团股份公司授权不得商用。

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