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本发明公开了一种用于开关电容阵列芯片的时间修正方法，该方法的创新点是通过利用采样信号周期与采样间隔之间的关系，构建超定线性方程组并求解，以获得开关电容阵列芯片实际的采样间隔，再利用该采样间隔对时间测量结果进行修正。这种方法具有算法简单高效，...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

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