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本发明公开一种计算机断层系统的造影方法，包括：控制计算机断层系统接受描述操作以设定描述数据；于分别对应不同的模板数据的多个造影参数集中选择符合的造影参数集，其中各造影参数集用于最大化符合各模板数据的3D造影数据的对比信噪比；及，依据所选择的...
该专利属于台达电子工业股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过台达电子工业股份有限公司授权不得商用。

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