下载用于检测颗粒物质的设备和方法的技术资料

文档序号:18495023

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本发明公开一种用于检测颗粒物质(PM)的设备,其在检测颗粒物质时,根据吸引颗粒物质来测量电容的变化。所述设备包括:供电单元,其施加用于吸引PM的偏置电压;检测单元,其通过使用从偏置电压施加的检测电压来形成磁场并且通过将PM吸引到磁场来由PM...
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