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本发明的目的是提供一种评估方法，在该方法中，确定至少两个介质的至少一个分界面的宏拓扑、毫拓扑、微拓扑以及纳米拓扑中的至少一个拓扑，获得关于至少两个介质的所述至少一个分界面的拓扑的信息。在该方法中，通过执行分割来处理所获得的关于至少两个介质的...
该专利属于奥卢大学所有，仅供学习研究参考，未经过奥卢大学授权不得商用。

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