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本申请公开了一种反符合超低本底HPGeγ谱仪，包括样品室和杜瓦瓶，样品室设置有封闭空腔，杜瓦瓶的瓶口插接有冷指，冷指穿过封闭空腔底部延伸至封闭空腔内，冷指位于封闭空腔内部的一端固定连接有HPGe探测器，样品室从外到内依次设置有外铅层、塑闪层...
该专利属于卡迪诺科技（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过卡迪诺科技（北京）有限公司授权不得商用。

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