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一种用于透明基底薄膜表界面力学特性测量的实验装置制造方法及图纸
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下载一种用于透明基底薄膜表界面力学特性测量的实验装置的技术资料
文档序号:18457734
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一种用于透明基底薄膜表界面力学特性测量的实验装置,设置在中空式微位移单元上的用于加载被测薄膜的水平加载单元,位于水平加载单元上方的微悬臂梁测试单元,位于中空式微位移单元的下方用于采集图像数据的显微干涉测试单元,信号处理单元分别与微悬臂梁测试...
该专利属于天津大学所有,仅供学习研究参考,未经过天津大学授权不得商用。
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