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本发明涉及电子检测领域，尤其涉及一种用于电子元件平整度的检测装置，包括行走单元和检测单元：行走单元包括第一行走架和第二行走架；检测单元设在第一行走架上，检测单元包括固定在第一行走架上的固定板，固定板上铰接有检测杆，检测杆的下端设有检测机构，...
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