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本发明涉及一种用于陶瓷基片检测的背光运行机构，所述用于陶瓷基片检测的背光运行机构包括第一驱动机构和第二驱动机构，所述第一驱动机构与所述第二驱动机构连接，所述第一驱动机构驱动所述第二驱动机构沿方向X运动，所述用于陶瓷基片检测的背光运行机构还包...
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