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本发明提供了一种在低采样率下生成基带数据的方法和装置，其首先，确定当前SC‑FDMA符号的起始时间偏移值t_shift；其次，确定该当前SC‑FDMA符号的采样点个数N；最后，从该起始时间偏移值t_shift开始，重复以采样周期ts为步长计...
该专利属于联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司授权不得商用。

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