专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
华南师范大学
>
基于弱测量的波函数直接测量方法及装置制造方法及图纸
>技术资料下载
下载基于弱测量的波函数直接测量方法及装置的技术资料
文档序号:18366200
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种基于弱测量的波函数直接测量方法及装置,该方法包括如下步骤:在某一时刻对待测单光子施加相位调制,调制深度控制到微扰程度;在同一时刻对待测单光子施加振幅调制,调制深度同样控制到微扰程度;将没有经过弱调制的单光子、经过相位弱调制的...
该专利属于华南师范大学所有,仅供学习研究参考,未经过华南师范大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。