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本文对用于从多重反应检测分析物的检测装置和相关系统以及方法进行了描述。具体而言，本文描述了采用改进的ELISA方法进行至少一个检测反应的装置，其包括含有检测区和参照区的表面、检测传感器和光源。该检测装置可以包括互补金属氧化物半导体(CMOS...
该专利属于埃克塞尔柯尔有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过埃克塞尔柯尔有限责任公司授权不得商用。

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