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降低晶体缺陷密度的方法技术
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下载降低晶体缺陷密度的方法的技术资料
文档序号:1828459
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一种在高压高温(HP/HT)下消除非金刚石晶体中缺陷或应变的方法,从提供含缺陷晶体和压力介质开始,将晶体和压力介质放置在高压小容器中,再置于高压设备中,在足够高压高温的反应条件下处理到足以消除其单晶体中一种或多种缺陷或解除应变的时间。...
该专利属于通用电气公司所有,仅供学习研究参考,未经过通用电气公司授权不得商用。
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