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本发明涉及电子元器件检测技术领域，公开了20W亚微米级三维X射线实时成像检测系统和检测方法，包括：X射线防护框架组件、电脑显示器、电气控制面板、主门、装载门、伺服运动控制组件、同步气浮减震自平衡装置、X射线影像装置、X射线管、高压导联装置和...
该专利属于达格测试设备（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过达格测试设备（苏州）有限公司授权不得商用。

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