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一种基于可见光图像的CCD信号采样位置精确选取方法，通过完整的成像系统，利用相关双采样技术统计两个采样保持脉冲的关系，统计采样位置变化时图像的特征量，并通过计算特征量的变化值，获得准确的CCD模拟信号信息，直接得到CCD的工作状态，从而为选...
该专利属于北京空间机电研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京空间机电研究所授权不得商用。

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