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本发明公开了一种基于微弱信息保留的成像校正方法与装置，其方法在响应曲线局部区间，将像元的响应灰度值与入射光强度之间的关系近似线性化处理，通过改变每个像元响应直线的斜率和偏移使所有像素点的响应直线相同；对于相机镜头中灰尘及噪声的影响，使用Ma...
该专利属于武汉精测电子集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精测电子集团股份有限公司授权不得商用。

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