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逐点校正方法技术
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文档序号:18051640
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本发明提出一种逐点校正方法,首先通过从待校正箱体中选取多个样本箱体搭建样箱小屏来进行图像采集并计算样本箱体间的亮色度均值偏差比例,其次将样本箱体搭建在校正大屏支点位置上且其它剩余待校正箱体可在校正大屏任意搭建位置,然后对校正大屏进行图像采集...
该专利属于西安诺瓦电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过西安诺瓦电子科技有限公司授权不得商用。
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