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本发明涉及一种集成电路测试设备，尤其涉及一种对于集成电路板电子元件的检测设备。本发明要解决的技术问题是提供采用高度检测法能够对集成电路板密密麻麻大小不一的电子元件进行准确的检测、在检测过程中电子元件的引脚和焊点不会对质检员的手造成伤害的一种...
该专利属于郑世珍所有，仅供学习研究参考，未经过郑世珍授权不得商用。

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