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本发明的课题在于提供一种在多层基板的内层具有测试用电极并且能够小型化的电子电路模块、以及用于进行不良分析的前期作业变得容易的电子电路模块的试验方法。为此，电子电路模块(100)具备多层基板(10)和安装在多层基板(10)的最上层(10a)的...
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