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下载片上参数测量的技术资料

文档序号:17958341

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本发明公开了一种用于执行片上参数测量的设备和方法。在一个实施方案中,IC包括多个功能电路块,每个功能电路块具有用于测量诸如电压和温度的参数的一个或多个传感器。所述功能块中的每一者包括被耦合以从局部供电电压节点接收电力的电路。类似地,所述传感...
该专利属于苹果公司所有,仅供学习研究参考,未经过苹果公司授权不得商用。

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