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本实用新型属于形位公差测量设备相关技术领域，并公开了一种多功能的轴组装形位公差测量仪，其包括用于吸附在基准平台上的基台，安装在该基台上且可实现X轴方向调节的第一十字轴组，安装在该第一十字轴组上且可实现Y轴方向调节的第二十字轴组，安装在该第二...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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