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本发明属于一种基于发射率光谱指数模型定量反演岩石SiO2含量的方法，具体包括：一、岩石发射率光谱测量，获取岩石样本发射率曲线；二、岩石样品SiO2含量室内定量化学分析；三、表征岩石SiO2含量诊断波长选取和光谱指数构建；四、构建岩石样品Si...
该专利属于核工业北京地质研究院所有，仅供学习研究参考，未经过核工业北京地质研究院授权不得商用。

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