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本发明属于闪存芯片寿命预测技术，尤其是涉及一种基于数学模型的闪存芯片寿命预测方法。本发明首先通过闪存芯片测试系统收集样本闪存芯片的物理信息和寿命信息，然后用智能算法对测试获得的数据信息进行运算处理得到闪存芯片寿命预测模型，最后通过少量测试获...
该专利属于武汉忆数存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉忆数存储技术有限公司授权不得商用。

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