专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
深圳开阳电子股份有限公司
>
一种图像坏点检测方法、装置和图像处理芯片制造方法及图纸
>技术资料下载
下载一种图像坏点检测方法、装置和图像处理芯片的技术资料
文档序号:17784553
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开一种图像坏点检测方法、装置和图像处理芯片,该方法包括步骤:接收图像原始数据,将图像原始数据的每一像素值减去预设的偏移电平,得到该像素点偏移校正后的偏移校正值;根据M帧图像内全像素点的所述偏移校正值的累加值,得到第一误差值;根据M帧...
该专利属于深圳开阳电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳开阳电子股份有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。