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本发明本发明公开了基于信息熵的集成电路抗故障注入攻击安全评估方法，使用信息熵表征在故障注入下泄露的信息量，作为电路安全性评估的量化指标。步骤如下：(1)确定待测密码电路，指定故障模型；(2)根据待测电路和故障模型，计算该故障模型对电路造成的...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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