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本发明涉及电子器件辐射效应领域，特别是涉及一种大气中子诱发的FPGA器件失效率检测方法和系统，通过对FPGA阵列进行大气中子单粒子效应检测，获取FPGA阵列的大气中子单粒子效应检测的测量数据；获取所述FPGA阵列中FPGA器件的数量；根据所...
该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所授权不得商用。

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