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本发明涉及一种基于水下探测的全海深高强度耐压光谱分析装置，解决现有海洋光学仪器耐压性能低、密封性能低、仪器不能在全海深环境下可靠地工作等问题。该装置包括外壳、电池组件、闪烁光源、电路控制处理系统、物镜镜筒、第一准直物镜组、第二准直物镜组、狭...
该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

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