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本实用新型公开了一种BGA测试探针，包括保护外壳、测试探针主体和防护套壳，所述保护外壳安装在测试探针主体中心外侧，所述保护外壳内腔设有连通架，所述连通架上下两端均卡接有连接卡壳，所述连通架内端一侧设有套接口，所述连通架外端一侧卡接有第一控制...
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