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本发明公开了一种自动触发测试的方法和电路，特别适用于在测试设备上实现多联张非接触智能卡自动触发测试的方法和电路，当多联张卡放置到指定位置时，通过多个纸张传感器检测到多联张卡的出现，将各自产生的电信号通过逻辑与电路传送给控制器，通知控制器开始...
该专利属于上海华虹集成电路有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹集成电路有限责任公司授权不得商用。

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