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为了解决单片机80C196结构功能复杂而外部引脚有限，导致辐射效应测试难以覆盖单片机80C196所有内部功能模块的技术难题，本发明提供了一种CMOS工艺单片机80C196辐射效应的在线测试系统和方法。首先对待测单片机80C196进行功能模块...
该专利属于西北核技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过西北核技术研究所授权不得商用。

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